D8 DISCOVER Plus
XRD über den Erwartungen
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Das D8 DISCOVER Plus ist das leistungsstärkste und vielseitigste Röntgendiffraktometer und der Markt.
Kern ist das hochpräzise ATLAS-Goniometer, das die hocheffiziente Turbo-Röntgenquelle (TXS-HE) und den marktführenden Non-Coplanar Arm beherbergt.
Es ist für die strukturelle Charakterisierung der gesamten Palette von Materialien von Pulvern, amorphen und polykristallinen Materialien bis hin zu epitaxialen mehrschichtigen Dünnschichten bei Umgebungs- und Nichtumgebungsbedingungen konzipiert.
Anwendungen:
- Phasenidentifikation und Quantifizierung, Strukturbestimmung und -veredelung, Mikrostamm- und Kristallitgrößenanalyse,
- Röntgenreflektometrie, Grazing Incidence Diffraction (GID), In-Plane Diffraction, High-Resolution XRD, GISAXS, GI-Stress Analysis, Crystal Orientation Analysis
- Restspannungsanalyse, Textur- und Polfiguren, Mikro-Röntgenbeugung, Weitwinkel-Röntgenstreuung (WAXS),
- Gesamtstreuungsanalyse: Bragg Beugung, Pair-Distribution-Funktion (PDF), Small Angle X-Ray Scattering (SAXS)
Marktgalerie
Hauptmerkmale
Nicht-koplanarer Arm
Der D8 DISCOVER Plus kann mit dem Nicht-Koplanar-Arm ausgestattet werden, um In-Plane-Beugungsmessungen mit unübertroffener Leistung durchzuführen.
- Barrierefreier 2-Bereich von bis zu 160° für unübertroffene Genauigkeit bei der D-Abstandsbestimmung.
- Unübertroffene Genauigkeit mit direktem Winkelgeber.
- Spezielle Strahlwegkomponenten erhöhen die gemessenen Intensitäten, um Signale auch von ultradünnen polykristallinen Folien zu erhalten.
- Nahtlose Integration in DIFFRAC. SUITE-Software und in DIFFRAC. DAVINCI für maximale Effizienz.
ATLAS™ Goniometer
Bei der Röntgenbeugung ist die Basis für eine genaue Probenanalyse das Goniometer und die präzise Ausrichtung der montierten Komponenten insbesondere während der Messung. Das ATLAS-Goniometer erfüllt diese Anforderungen exakt und setzt Maßstäbe für Winkel- und Raumgenauigkeit:
- Robustes und wartungsfreies Goniometer
- Hochpräzise Schrittmotoren mit hochauflösenden optischen Encodern
- Präzise und softwareüberwachte Schnittstellen für Montagekomponenten
Das mit dem ATLAS-Goniometer ausgestattete D8 DISCOVER Plus verfügt über eine Bruker AXS generische Ausrichtungsgarantie: Die Winkelabweichung ∆2Theta der gemessenen und zertifizierten Spitzenpositionen 2Theta beträgt ≤0,007°. Dies wird durch Messung des NIST-zertifizierten Standards SRM1976 mit jedem einzelnen Gerät bestätigt.
TXS-HE Röntgenquelle
Ob das wichtigste Maß eines analytischen Röntgenwerkzeugs die Datenqualität ist, definiert als Signal-rausch- oder Signal-zu-Hintergrund oder Beispieldurchsatz, eine Konstante ist, dass ein stärkeres Signal immer von Vorteil ist.
Die High Efficiency Turbo X-ray Source (TXS-HE) wurde entwickelt, um das Signal zu steigern und gleichzeitig die Wartung im Zusammenhang mit rotierender Anodentechnologie zu minimieren.
- Bis zu 5-fache Intensität eines industriell abgedichteten Rohres
- Line Focus Setup mit unübertroffener Brennpunkthelligkeit von 6 kW/mm2
- Ideale Kupplung mit Optik für maximale Intensität
- Reduzierte Strahlweglänge zur Minimierung der Luftstreuung
ATLAS™ Goniometer
Kompakt UMC Plus 150
PATHFINDER Plus Optik
EIGER2 R 500K
MONTEL Plus mit spezieller Optik
Jenseits der Premium-Klassenbeugung
Dünnschichtanalyse
Koplanare Beugung
In einem koplanaren Experiment erhöhen Quelle und Detektor ihren Winkel relativ zur Probenoberfläche, was zu einer Sondierungsrichtung in die Probenoberfläche führt.
- Grazing Incidence Diffraction (GID) zur oberflächenempfindlichen Identifizierung kristalliner Phasen und zur Bestimmung ihrer strukturellen Eigenschaften einschließlich Kristallitgröße und Dehnung.
- Röntgenreflektometrie (XRR) zur Extraktion von Dicken, Materialdichten und Grenzflächenstrukturen in mehrschichtigen Proben – von einfachen Substraten bis hin zu hochkomplexen Superlattice-Strukturen.
- Grazing Incidence Small Angle X-Ray Scattering (GISAXS)
Nicht-koplanare Beugung
In einem nicht-koplanaren Experiment werden die Quelle und der Detektorwinkel relativ zur Probenoberfläche fixiert, wobei sich der Detektor in einer Richtung parallel zur Probenoberfläche bewegt, was zu einer Sondierungsrichtung entlang der Probenoberfläche führt.
- In-Plane Grazing Incidence Diffraction (IPGID) reduziert die Eindringtiefe auf nm, wodurch die Oberflächenisolierung ermöglicht und die Empfindlichkeit gegenüber Schichten mit atomaren Dicken erhöht wird.
- Polykristallines IPGID ermöglicht die Bestimmung der in-plane Kristallitgröße
- Epitaxial IPGID ermöglicht die direkte Bestimmung von In-Plane-Gitterparametern und die Ausrichtung in der Ebene.
Materialforschung
Das ATLAS-Goniometer erhöht sowohl die Winkel- als auch die reale Raumpositionierungsgenauigkeit von Analysen, die großflächige Messungen aus Miniaturbereichen der Probe ermöglichen. Eine neue Klasse von Diffraktometern wird durch die Kombination der symmetrischen Divergenz IµS mit MONTELPlus und der Multimode EIGER2 R Detektorfamilie realisiert, was zu Strahlqualität und Detektionsfähigkeit ähnlich der an Beamlines gefunden.
- Grazing Incidence Diffraction (GID) zur oberflächenempfindlichen Identifizierung kristalliner Phasen und Bestimmung ihrer strukturellen Eigenschaften wie Kristallitgröße und Dehnung.
- Röntgenreflektometrie (XRR) zur Extraktion von Dicken, Materialdichten und Grenzflächenstrukturen in mehrschichtigen Proben – von einfachen Substraten bis hin zu hochkomplexen Superlattice-Strukturen.
- Hochauflösende Röntgenbeugung (HRXRD) zur Analyse von epitaxial gewachsenen Probenstrukturen: Schichtdicke, Dehnung, Entspannung, Mosaik, Zusammensetzungsanalyse von Mischkristallen.
- Spannungs- und Texturanalyse (bevorzugte Ausrichtung)
- Weitwinkel-Röntgenstreuung (WAXS)
Pulverbeugung
Powder Diffraction (XRPD) deckt ein breites Anwendungsspektrum von Proben mit geringem Orientierungsgrad ab. Der D8 DISCOVER Plus bringt XRPD mit dem ATLAS-Goniometer auf ein neues Maß an Präzision. Durch die Verbesserung der Genauigkeit über das branchenführende D8-Goniometer hinaus ermöglicht die XRPD-Analyse des D8 DISCOVER Plus forschern, kleinere strukturelle Details aufzudecken, die zuvor nicht beobachtet wurden. Die Ausstattung des D8 DISCOVER Plus mit dem TXS-HE ermöglicht die Erfassung von XRPD-Daten über das 5-fache schneller als ein herkömmliches Rohrsystem.
Kombiniert mit dem leistungsstarken DIFFRAC. SUITE Software der D8 DISCOVER Plus ermöglicht die einfache Ausführung von PXRD-Anwendung wie:
- Phasenidentifikation
- Phasenquantifizierung
- Strukturlösung
- Analyse der Paarverteilungsfunktion (PDF)
- Kleine Winkel-Röntgenstreuung (SAXS)
Bewerbungsgalerie
XRD mit 2D-Detektor
In-Plane Beugung
Gegenseitige Raumzuordnung
D8 DISCOVER Plus Technische Daten
| Spezifikation | Profitieren | |
| TWIST-TUBE | Einfacher Wechsel zwischen Punkt- und Linienfokus Verfügbare Anoden: Cr, Cu, Mo, Ag Max. Leistung und Filament: bis zu 3 kW (0,4 x 16 mm2), je nach Anodenmaterial Patent: EP 1 923 900 B1 | Schneller Wechsel der Wellenlänge, um perfekt auf unterschiedliche Anwendungen zu passen Schnellster Wechsel zwischen Linien- und Punktfokus für ein breiteres Anwendungsspektrum und bessere Ergebnisse in kürzerer Zeit |
| I es Mikrofokus-Quelle | Leistungslast: bis zu 50 W, einphasige Leistung MONTEL- und MONTEL Plus-Optik kombiniert Parallel- und Fokussierspiegel. Strahlgrößen bis zu 180 x 180 m2. Maximaler integrierter Fluss 8 x 10⁸ cps am Spiegelausgang. Strahldivergenz bis 0,5 mrad | Millimetergroßer Strahl mit hoher Brillanz und ultraniedrigem Hintergrund Grünes Design mit geringem Stromverbrauch, ohne Wasserverbrauch und langlebige Komponenten Optimieren Sie die Strahlform und Divergenz für beste Ergebnisse |
| TXS-HE Röntgenquelle | Kompaktes und leichtes Design für vertikales ATLAS-Goniometer Linienfokus, 0,3x3 mm2 Focal Brigthness von 6 kW/mm2 Anodenmaterialien: Cu, Co, Cr, Mo Max. Spannung 50 kV, max. Leistung je nach Anodenmaterial: Cr 3,2 kW, Cu/Mo 5,4 kW, Co 2,8 kW Vorausgerichtetes Wolfram-Filament | Hochfluß-Röntgenquelle, die eine horizontale Probenmontage ermöglicht. Bis zu 5-mal mehr Intensität im Vergleich zu Standard-Keramik-Röntgenquellen. Perfekt geeignet für Linien- und Spotfokusanwendungen Vorausgerichtetes Filament ermöglicht einen schnellen Filamentaustausch mit minimaler Neuausrichtungsanforderung. |
| TRIO Optik | Software-Taster-Schalter zwischen: Motorisierte Divergenz Schlitz (Bragg-Brentano) Hohe Intensität Ka1,2 Parallelstrahl Hochauflösender Ka1-Parallelstrahl Patente: US10429326, US6665372, US7983389 | Vollautomatisches, motorisiertes Umschalten zwischen bis zu 6 verschiedenen Strahlgeometrien ohne manuelle sam Perfekt geeignet für alle Probentypen, einschließlich Pulver, Schüttgüter, Fasern, Platten und Dünnschichten (amorph, polykristallin und epitaxial) |
| Hochauflösende Monochromatoren | Ge(220) und Ge(004) Reflexionen in symmetrischer und asymmetrischer Geometrie 2-Bounce- und 4-Bounce-Monochromatoren (Bartels-Typ) Ausrichtungsfreie Montage durch SNAP. LOCK-Technologie | Breite Auswahl für die beste Auflösung vs. Intensitätsausgleich, um bestmögliche Ergebnisse zu erzielen. Schneller Austausch von Monochromatoren zur Optimierung auf verschiedene Proben |
| ATLAS™ Goniometer | Vertikales Goniometer mit erzwungener Mechanik für tXS-HE-Röntgenquelle Branchenführende Winkelgenauigkeit : ±0.007° 2' garantiert über den gesamten Winkelbereich, der auf NIST SRM 1976 bestimmt wird Nahtlose Integration von Komponenten der D8-Familie, einschließlich Optik, Positionierungskameras, Probenstufe, Nicht-Ambiente- und Detektortechnologien | Unübertroffene Genauigkeit und Präzision, wie brukers einzigartige Ausrichtungsgarantie zeigt Absolut wartungsfreier Antriebsmechanismus / Getriebe mit Lebensdauerschmierung Unterstützt die gesamte Palette von Anwendungen, um Daten mit höchster Genauigkeit zu generieren |
| Non-Coplanar Arm | Dritte Goniometerachse zur Untersuchung von ultradünnen Schichten und Probeneigenschaften in der Ebene: Min. Schrittgröße: 0.001° Max. 2-Bereich (je nach Konfiguration): 160° Automatisierte Detektorentfernungserkennung
| Unübertroffene Genauigkeit mit direktem Winkelgeber Nahtlose Integration in DIFFRAC. SUITE-Software Bis zu 160° 2-Bereich für genaueste nicht-koplanare Strukturbestimmung Echtzeitkalibrierung für EIGER2-Detektor |
| Kompakte UMC-Stufen | Kompakte UMC Plus 80: Schneller Spinner für XRPD Max. (x,y) Übersetzung: +/- 40 mm Max. Probenhöhe: 57 mm
Kompakte UMC Plus 150: Max. (x,y) Übersetzung: +/- 75 mm Max. Probenhöhe: 57 mm Vakuum- und elektrische Durchführungen für Waferfutter- und Kippstufen | Nahtloses Umschalten zwischen Thin Film Forschung und Pulverbeugungsmodus 5-Positions-Probenwechsler für 51 mm Probendurchmesser 9-Positionen-Probenwechsler für 32 mm Probendurchmesser Mapping von 2-4" Wafern
Kartierung von 6-8" Wafern Reflexionsmodus 96 Wellplattenfähigkeit Ermöglicht eine unendliche Phi-Rotation mit angeschlossener Tilt-Bühne und Vakuum, ohne dass Kabel oder Vakuumrohre gewartet werden müssen. |
D8 DISCOVER Plus Ressourcen
Broschüren & Produktblätter & Flyer
- D8 DISCOVER XRD Solutions for Industry and Research
- Vertikale Goniometer für D8 DISCOVER: Ein starkes Fundament setzen
- Beispielstufen für den D8 DISCOVER - Vielseitiges Probenhandling
- D8 DISCOVER Plus - ATLAS™ Goniometer und hocheffiziente Turbo Röntgenquelle
- Universelles Bewegungskonzept und Eulerische Wiegen für kontrollierte Probenpositionierung
Anwendungsberichte & Webinare
- Characterization of ultra-thin metallic films using incidence diffraction geometries
- D8 DISCOVER Plus, PDF-Analyse zu Titandioxid-Nanopartikeln
- D8 DISCOVER Plus, Lower Limits of Detection (LOD) und Quantification (LOQ) für Atmungssäure
- D8 DISCOVER Plus, Röntgenreflektometrie auf Dünnschichten und Superlattices