D8 ADVANCE
El D8 ADVANCE: Una solución única para XRD, PDF y SAXS
Vea nuestro video sobre D8 ADVANCE (XRD)
D8 ADVANCE – la solución a prueba de futuro en difracción de rayos X
El D8 ADVANCE se basa en la exclusiva plataforma de la familia de difractómetros D8 y está perfectamente diseñado para todas las aplicaciones de difracción y dispersión de polvo de rayos X, incluyendo:
- difracción de polvo de rayos X tradicional (RDX)
- Análisis de la función de distribución de pares (PDF)
- Dispersión de rayos X de ángulo pequeño y ancho (SAXS, WAXS)
Debido a su excelente adaptabilidad, el D8 ADVANCE tiene la capacidad de medir todos los tipos de muestras, desde líquidos hasta polvos sueltos, desde películas delgadas hasta bloques sólidos, en un solo instrumento.
No importa si usted es un usuario principiante o experto, los cambios de configuración son rápidos, fáciles e infalibles. Todo esto es posible gracias al DAVINCI único de Bruker. DESIGN: Cambios sin herramientas y sin alineación de la configuración del instrumento, soportados por el reconocimiento y validación automáticos de componentes en tiempo real.
Aún más: sólo Bruker ofrece una garantía de alineación basada en el material de referencia estándar NIST SRM1976. No hay ningún otro difractómetro de polvo en el mercado que exceda la precisión de un D8 ADVANCE en términos de posiciones pico, intensidades y resolución.
Galería de mercados
Características principales
Doble / TWIN óptica
El diseño patentado de la trayectoria del haz óptico TWIN / TWIN simplifica en gran medida el uso del D8 ADVANCE, permitiendo una gran variedad de aplicaciones y tipos de muestras. Con la comodidad del usuario en mente, el sistema cuenta con conmutación motorizada automática entre 4 geometrías de haz diferentes. Sin la intervención manual del usuario, el sistema es capaz de cambiar entre el enfoque Bragg-Brentano para polvos y geometría de haz paralelo para muestras mal formadas, recubrimientos y películas delgadas y todo lo demás. Es perfectamente adecuado para todos los tipos de muestras, incluyendo polvo, volumen, fibra, lámina y película delgada (amorfo, policristalilina y epitaxial) en condiciones ambientales o no ambientales.
Optimización dinámica de ™ (DBO)
La característica DBO única de Bruker establece un nuevo punto de referencia significativo en términos de calidad de datos para la difracción de rayos X. La sincronización automática de las ranuras de divergencia motorizadas, una pantalla anti-dispersión motorizada y la ventana de detector activo de campo de visión variable proporciona una calidad de datos sin igual, específicamente en ángulos bajos 2Ɵ. DBO es compatible con todos los miembros de la familia de detectores LYNXEYE: SSD160-2, LYNXEYE-2 y LYNXEYE XE-T.
LYNXEYE XE-T
El LYNXEYE XE-T es el buque insignia dentro de la familia de detectores LYNXEYE. El LYNXEYE XE-T es el único detector de dispersión de energía en el mercado para la adquisición de datos 0D, 1D y 2D. Adecuado para todas las longitudes de onda (desde Cr a Ag), con la capacidad de mayor velocidad de recuento y la mejor resolución angular, el detector es ideal para todas las aplicaciones de difracción y dispersión de rayos X.
La excelente resolución de energía del LYNXEYE XE-T, superior a 380 eV, lo convierte en el sistema de detectores de mayor rendimiento del mercado en términos de filtrado de fluorescencia. Con el detector LYNXEYE XE-T Fe fluorecense excitado por la radiación Cu se filtra 100% a cero pérdida de intensidad y no hay necesidad de filtros de metal que causen artefactos en los datos tales como remanentes K y bordes de absorción. Además, ya no es necesario que los monocromóficos secundarios que matan la intensidad.
El LYNXEYE XE-T está cubierto por la garantía única del detector Brukers: No hay canales defectuosos en el momento de la entrega. ¡Garantizado!
Galería de características
Familia de detectores EIGER2 R
Calidad de instrumentos y datos
Un difractómetro - Todas las aplicaciones
Difracción de polvo
Las técnicas de difracción de polvo de rayos X (XRPD) se encuentran entre las herramientas más importantes para la caracterización de materiales. Gran parte de la información incrustada en un patrón de polvo se deriva directamente de la disposición atómica de las fases presentes. El D8 ADVANCE y el DIFFRAC. El software SUITE permite la ejecución simple de métodos XRPD comunes:
- Identificación de fases cristalinas y amorfas y determinación de la pureza de los especímenes
- Análisis cuantitativo de fases cristalinas y amorfas en mezclas multifásicas
- Análisis de microestructuras (tamaño de cristalita, microformación, trastorno...)
- Tensión residual a granel resultante del tratamiento térmico o mecanizado en componentes fabricados
- Análisis de textura (orientación preferida)
- Indexación, determinación de la estructura cristalina ab-initio y refinamiento de la estructura cristalina
Análisis de funciones de distribución de pares
El análisis de la función de distribución de pares (PDF) es una técnica analítica que proporciona información estructural de materiales desordenados basados en Bragg, así como dispersión difusa ("Dispersión total"). Mientras que los picos Bragg proporcionan información sobre la estructura de cristal promedio de un material (es decir, orden de largo alcance), la dispersión difusa permite la caracterización de su estructura local (es decir, orden de corto alcance).
El software D8 ADVANCE y TOPAS representan las soluciones de análisis de PDF de mayor rendimiento en el mercado en términos de velocidad de análisis, calidad de datos y resultados para el análisis de materiales amorfos, poco cristalinos, nanocristalinos o nanoestructurados:
- Identificación de fase
- Determinación y refinamiento de la estructura
- Nano partícula tamaño y forma
Películas y recubrimientos finos
El análisis de películas y revestimientos finos se basa en los mismos principios de XRPD, pero con más acondicionamiento de haz y control angular. Los ejemplos típicos incluyen, pero no se limitan a, identificación de fase, calidad cristalina, tensión residual, análisis de textura, determinación de espesor y composición frente al análisis de deformación unitaria. El análisis de películas delgadas y recubrimientos se centra en las propiedades de los materiales en capas con espesor de nm a m, que van desde recubrimientos amorfos y policristalinos hasta películas cultivadas epitaxialmente. El D8 ADVANCE y el DIFFRAC. El software SUITE permite análisis de alta calidad de películas delgadas, incluyendo:
- Difracción de incidencia de pastoreo
- Reflectometría de rayos X
- Difracción de rayos X de alta resolución
- Mapeo de espacios recíprocos
Galería de aplicaciones
D8 ADVANCE Especificaciones
Característica | Especificación | Ventaja |
Óptica TRIO y TWIN | Interruptor pulsador de software entre: Hendidura de divergencia motorizada (Bragg-Brentano) Alta Intensidad Ka1,2 Rayo Paralelo Viga paralela Ka1 de alta resolución Patentes: US10429326, US6665372, US7983389 | Cambio motorizado totalmente automático entre hasta 6 geometrías de haz diferentes sin intervención manual del usuario Perfectamente adecuado para todo tipo de muestras, incluyendo polvos, materiales a granel, fibras, láminas y películas delgadas (amorfo, policristalino y epitaxial) |
Optimización dinámica del haz | Sincronización dinámica de: rendijas de divergencia motorizadas pantalla motorizada anti-dispersión ventana variable del detector activo 2Ɵ Rango angular: <1 a >150 | Datos prácticamente libres de dispersión de aire, instrumento y soporte de muestra Límites inferiores significativamente mejorados de detección que permiten la cuantificación para fases cristalinas y amorfas menores Rendimiento sin igual en ángulos de baja 2Ɵ que permiten investigaciones precisas de arcillas, productos farmacéuticos, zeolitas, materiales marco porosos y más |
LYNXEYE XE-T | Resolución de energía: < 380 eV a 8 KeV Modos de detección: 0D, 1D, 2D Longitudes de onda: Cr, Co, Cu, Mo y Ag Patentes: EP1647840, EP1510811, US20200033275 | No hay necesidad de filtros K y monocromadores secundarios Filtrado 100% de Fe-fluorescense con radiación Cu Hasta 450 veces más rápido que los sistemas de detectores convencionales BRAGG2D: Recopile datos 2D con un haz de línea primario divergente Garantía única del detector: No hay canales defectuosos en el momento de la entrega |
EIGER2 R | El detector multimodo de última generación (0D/1D/2D) basado en la tecnología Hybrid Photon Counting, desarrollado por Dectris Ltd. | Integración perfecta de la detección 0D, 1D y 2D en modos de escaneo pasos, continuos y avanzados Rotación ergonómica y sin alineación del detector para optimizar la cobertura angular de γ o 2Ɵ La óptica de haz difractada panorámica y sin herramientas utilizando el campo de visión completo del detector Posicionamiento del detector continuamente variable para equilibrar la cobertura angular y la resolución |
Giro. Tubo | Interruptor fácil, rápido y sin alineación entre aplicaciones de enfoque de línea y punto | Sin desconexión de cables eléctricos o mangueras de agua ni desmontaje de tubos Davinci. DESIGN: Detección y configuración totalmente automáticas de la orientación del enfoque |
Cambiadores de muestra | FLIPSTICK: 9 muestras AUTOCHANGER: 90 muestras | Operación en la reflexión Y geometrías de transmisión |
D8 Goniómetro | Goniómetro de dos círculos con motores paso a paso independientes y encoders ópticos | Precisión y precisión sin igual, como la garantía de alineación única de Bruker Mecanismo / engranajes de accionamiento sin mantenimiento absolutamente libre con lubricación de por vida |
No ambiental | Temperatute: Desde -4K hasta 2500K Comprobación: 10-⁴ mbar hasta 100 bar Humedad: 5% a 95% | Investigaciones en condiciones ambientales y no ambientales Fácilmente intercambiadas por DIFFRAC. Davinci |