D8 DISCOVER Plus
XRD más allá de las expectativas
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El D8 DISCOVER Plus es el difractómetro de rayos X más potente y versátil del mercado.
Core es el goniómetro ATLAS de alta precisión que aloja la fuente de rayos X Turbo de alta eficiencia (TXS-HE) y el brazo no coplanar líder en el mercado.
Está diseñado para la caracterización estructural de toda la gama de materiales, desde polvos, materiales amorfos y policristalinos hasta películas delgadas epitaxiales de varias capas en condiciones ambientales y no ambientales.
Aplicaciones:
- Identificación y cuantificación de fases, determinación y refinamiento de la estructura, análisis de tamaño de tensión y cristalita,
- Reflectometría de rayos X, Difracción de incidencia de pastoreo (GID), difracción en plano, XRD de alta resolución, SIGS, análisis GI-Stress, análisis de orientación cristalina
- Análisis de tensión residual, figuras de textura y polos, difracción de rayos X micro, dispersión de rayos X de gran angular (WAXS),
- Análisis de dispersión total: difracción de Bragg, función de distribución de pares (PDF), dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
Galería de mercados
Características principales
Brazo no coplanar
El D8 DISCOVER Plus puede equiparse con el brazo no coplanaar para realizar mediciones de difracción en plano con un rendimiento sin igual.
- Alcance accesible de 2o de hasta 160o para una precisión sin igual en la determinación del espaciado d.
- Precisión inigualable con encoder angular directo.
- Los componentes de trayectoria de haz dedicados aumentan las intensidades medidas para obtener señales incluso de películas policristalinas ultra delgadas.
- Integración perfecta en DIFFRAC. SUITE y en DIFFRAC. DAVINCI para maximizar la eficiencia.
ATLAS™ Goniómetro
En la difracción de rayos X, la base para un análisis preciso de la muestra es el goniómetro y la orientación precisa de los componentes montados, especialmente durante la medición. El goniómetro ATLAS cumple exactamente estos requisitos por diseño y establece el punto de referencia para la precisión angular y espacial:
- Goniómetro robusto y sin mantenimiento
- Motores paso a paso de alta precisión con encoders ópticos de alta resolución
- Interfaces precisas y supervisadas por software para el montaje de componentes
El D8 DISCOVER Plus equipado con el goniómetro ATLAS viene con una garantía de alineación genérica Bruker AXS: la desviación angular ∆2Teta de posiciones pico medidas y certificadas 2Theta es ≤0.007o. Esto se verifica midiendo el estándar SRM1976 certificado por NIST con cada instrumento individual.
Fuente de rayos X TXS-HE
Si la medida clave de una herramienta analítica de rayos X es la calidad de los datos, definida como señal a ruido o de señal a fondo, o rendimiento de la muestra, una constante es que una señal más es siempre una ventaja.
La fuente de rayos X Turbo de alta eficiencia (TXS-HE) ha sido diseñada para aumentar la señal y minimizar el mantenimiento asociado con la tecnología de ánodo giratorio.
- Hasta 5 veces la intensidad de un tubo industrial sellado
- Configuración de enfoque de línea con un brillo de punto focal insuperable de 6 kW/mm2
- Acoplamiento ideal con óptica para máxima intensidad
- Reducción de la longitud del trayecto del haz para minimizar la dispersión del aire
ATLAS™ goniómetro
UMC compacto Plus 150
La óptica PATHFINDER Plus
EIGER2 R 500K
MONTEL Plus con óptica dedicada
Más allá de la difracción de clase Premium
Análisis de película delgada
Difracción coplanar
En un experimento coplanar, la fuente y el detector aumentan su ángulo en relación con la superficie de la muestra, lo que resulta en una dirección de sondeo en la superficie de la muestra.
- Difracción de incidencia de pastoreo (GID) para la identificación sensible a la superficie de las fases cristalinas y la determinación de sus propiedades estructurales, incluyendo el tamaño y la tensión de cristalitos.
- Reflectometría de rayos X (XRR) para la extracción de espesores, densidades de materiales y estructuras de interfaz en muestras multicapa, desde sustratos simples hasta estructuras de superlatposición altamente complejas.
- Incidencia de pastoreo Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (GISAXS)
Difracción no coplanar
En un experimento no coplanar, el ángulo de origen y detector en relación con la superficie de la muestra es fijo, con el detector moviéndose en una dirección paralela a la superficie de la muestra dando como resultado una dirección de sondeo a lo largo de la superficie de la muestra.
- La difracción de incidencia de pastoreo en plano (IPGID) reduce la profundidad de penetración a nm, lo que permite el aislamiento de la superficie y aumenta la sensibilidad a las capas con espesores atómicos.
- IpGID policristalino permite la determinación del tamaño de cristalitos en plano
- El IPGID epitaxial permite la determinación directa de los parámetros de celosía en el plano y la orientación en el plano.
Investigación de materiales
El goniómetro ATLAS aumenta la precisión de posicionamiento espacial angular y real de los análisis, lo que permite mediciones a gran escala a partir de áreas en miniatura de la muestra. Una nueva clase de difractómetro se realiza combinando la divergencia simétrica de la IµS con MONTELPlus y la familia de detectores multimodo EIGER2 R, lo que resulta en una calidad de haz y capacidad de detección similar a la que se encuentra en las líneas de haz.
- Difracción de incidencia de pastoreo (GID) para la identificación sensible a la superficie de fases cristalinas y la determinación de sus propiedades estructurales como el tamaño de cristalitos y la tensión.
- Reflectometría de rayos X (XRR) para la extracción de espesores, densidades de materiales y estructuras de interfaz en muestras multicapa, desde sustratos simples hasta estructuras de superlatposición altamente complejas.
- Difracción de rayos X de alta resolución (HRXRD) para el análisis de estructuras de muestras cultivadas por epitaxial: Espesor de capa, tensión, relajación, mosaico, análisis de composición de cristales mixtos.
- Análisis de tensión y textura (orientación preferida)
- Dispersión de rayos X de gran angular (WAXS)
Difracción de polvo
La difracción de polvo (XRPD) cubre una amplia gama de aplicaciones en muestras con un bajo grado de orientación. El D8 DISCOVER Plus lleva XRPD a un nuevo nivel de precisión con el goniómetro ATLAS. Al mejorar la precisión más allá del goniómetro D8 líder en la industria, el análisis XRPD en el D8 DISCOVER Plus permite a los investigadores descubrir detalles estructurales menores que no se habían observado anteriormente. Equipar el D8 DISCOVER Plus con el TXS-HE permite la adquisición de datos XRPD más de 5 veces más rápido que un sistema de tubos convencional.
Combinado con el potente DIFFRAC. El software SUITE D8 DISCOVER Plus permite la ejecución sencilla de la aplicación PXRD como:
- Identificación de fase
- Cuantificación de fase
- Solución de estructura
- Análisis de funciones de distribución de pares (PDF)
- Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
Galería de aplicaciones
XRD con detector 2D
Difracción en plano
Mapeo de espacio recíproco
D8 DISCOVER Plus Especificaciones
| Especificación | Ventaja | |
| TWIST-TUBE | Fácil cambio entre el enfoque de punto y línea Los ánodos disponibles: Cr, Cu, Mo, Ag Potencia máxima y filamento: hasta 3 kW (0,4 x 16 mm2), dependiendo del material de ánodo Patente: EP 1 923 900 B1 | Cambio rápido de la longitud de onda para que coincida perfectamente con diferentes aplicaciones Cambio más rápido entre el enfoque de línea y punto para una gama más amplia de aplicaciones y mejores resultados en un tiempo más corto |
| Fuente de Microfoto de I's | Carga de potencia: hasta 50 W, potencia monofásica Las ópticas MONTEL y MONTEL Plus combinan espejos paralelos y de enfoque. Tamaños de viga hasta 180 x 180 m2. Flujo integrado máximo 8 x 10⁸ cps en la salida del espejo. Divergencia de haz hasta 0,5 mrad | Viga de tamaño milimétrico con alto brillo y fondo ultra bajo Diseño verde con bajo consumo de energía, sin consumo de agua y componentes de larga duración Optimice la forma y la divergencia del haz para obtener los mejores resultados |
| Fuente de rayos X DE TXS-HE | Diseño compacto y ligero para goniómetro ATLAS vertical Enfoque de línea, 0,3x3 mm2 Brigthness focal de 6 kW/mm2 Materiales de ánodo: Cu, Co, Cr, Mo Tensión máxima 50 kV, potencia máx. dependiendo del material del ánodo: Cr 3.2 kW, Cu/Mo 5.4 kW, Co 2,8 kW Filamento de tungsteno pre-alineado | Fuente de rayos X de alto flujo que permite el montaje horizontal de la muestra. Hasta 5 veces más intensidad en comparación con las fuentes de rayos X cerámicas estándar. Perfectamente adecuado para aplicaciones de enfoque de línea y punto El filamento pre-alineado permite un intercambio rápido de filamentos con un mínimo de requisito de realineación. |
| TRIO Optics | Interruptor pulsador de software entre: Hendidura de divergencia motorizada (Bragg-Brentano) Alta Intensidad Ka1,2 Rayo Paralelo Viga paralela Ka1 de alta resolución Patentes: US10429326, US6665372, US7983389 | Cambio motorizado totalmente automático entre hasta 6 geometrías de haz diferentes sin intervención manual del usuario Perfectamente adecuado para todo tipo de muestras, incluyendo polvos, materiales a granel, fibras, láminas y películas delgadas (amorfo, policristalino y epitaxial) |
| Monocromadores de alta resolución | Reflexiones Ge(220) y Ge(004) en geometría simétrica y asimétrica Monocromadores de 2 rebotes y 4 rebotes (tipo Bartels) Montaje sin alineación a través de SNAP. Tecnología LOCK | Amplia elección para la mejor resolución frente al equilibrio de intensidad para obtener los mejores resultados posibles. Intercambio rápido de monocromadores para optimizar a diferentes muestras |
| ATLAS™ Goniómetro | Goniómetro vertical con mecánica forzada diseñada para albergar la fuente de rayos X TXS-HE Precisión angular líder en la industria: ±0.007o 2o garantizado en toda la gama angular determinada en NIST SRM 1976 Integración perfecta de la familia de componentes D8, incluida la óptica, las cámaras de posicionamiento, la etapa de muestreo, las tecnologías no ambientales y de detectores | Precisión y precisión sin igual, como lo demuestra la garantía de alineación única de Bruker Mecanismo / engranajes de accionamiento sin mantenimiento absolutamente libre con lubricación de por vida Soporta toda la gama de aplicaciones para generar datos de mayor precisión |
| Brazo no-Coplanar | Tercer eje goniómetro para investigar capas ultradelgadas y propiedades de muestra en plano: Tamaño mínimo del paso: 0,001o Rango máximo de 2o (dependiendo de la configuración): 160o Detección automática de distancia del detector
| Precisión sin igual con encoder angular directo Integración perfecta en DIFFRAC. Software SUITE Alcance de hasta 160o 2o para una determinación más precisa de la estructura no coplanar Calibración en tiempo real para el detector EIGER2 |
| Etapas compactas de UMC | UMC Plus 80 compacto: Hilandero rápido para XRPD Traducción máxima (x,y): +/- 40 mm Altura máxima de la muestra: 57 mm
UMC Plus 150 compacto: Traducción máxima (x,y): +/- 75 mm Altura máxima de la muestra: 57 mm Alimentación de vacío y eléctrica para las etapas de ebro e inclinación de obleas | Cambio sin fisuras entre la investigación de película delgada y el modo de difracción de polvo Cambiador de muestra de 5 posiciones para diámetro de muestra de 51 mm Cambiador de muestra de 9 posiciones para diámetro de muestra de 32 mm Mapeo de obleas de 2-4"
Mapeo de obleas de 6-8" Modo de reflexión 96 capacidad de placa de pozo Permite una rotación Phi infinita con la etapa de inclinación y el vacío conectados sin necesidad de cuidar los cables o la tubería de vacío. |
| Centric Eulerian Cradle (CEC) | Five degrees of freedom sample stage: x,y for sample translation of +/-40 mm z-Drive for height alignment Phi drive with 360° rotation freedom. Psi drive and angular range from -11° to 98° Max. weight load: 1 kg Various stage attachment available. | Stress and Texture measurements in side-inclination mode for more accurate results. Automated mapping capability in (x,y). Motorized tilt-stage for precise surface alignment. Powder- or capillary spinners allow for powder diffraction. Bayonet sample stage holder for fast and reproducible swapping with other stages. |
| Pathfinder Plus Optics | Software push-button switch between: Motorized Slit 2-bounce Ge Analyzer Automated absorber integrated | Fully automatic, motorized switching between two different optics without any manual user intervention. Maintains full field of view of LYNXEYE detectors. Absorber ensures linearity in measured data |
| LYNXEYE XE-T | Energy Resolution: < 380 eV @ 8 KeV Detection Modes: 0D,1D, 2D Wavelengths: Cr, Co, Cu, Mo and Ag Patents: EP1647840, EP1510811, US20200033275 | No need for Kß filters and secondary monochromators 100% filtering of Fe-fluorescense with Cu radiation Up to 450 times faster than conventional detector systems Bragg2D: Collect 2D data with a divergent primary line beam Unique detector warranty: No defective channels at delivery time |
| EIGER2 | The latest generation multi-mode (0D/1D/2D) detector based on the Hybrid Photon Counting technology, developed by Dectris Ltd. | Seamless integration of 0D, 1D and 2D detection in step, continuous and advanced scanning modes Ergonomic, alignment-free detector rotation to optimize γ or 2Θ angular coverage Panoramic, tool-free diffracted beam optics using the complete detector field of view Continuously variable detector positioning to balance angular coverage and resolution |
| Non-ambient | Temperature: Ranging from ~12 K up to ~2500 K Pressure: 10-⁴ mbar up to 100 bar Humidity: 5% to 95% RH | Investigations under ambient and non-ambient conditions Easily exchanged stages with DIFFRAC.DAVINCI |
D8 DISCOVER Plus Recursos
Hojas de producto & Folletos
- D8 DISCOVER XRD Solutions for Industry and Research
- Goniómetros verticales para D8 DISCOVER: Establecer una base sólida
- Etapas de muestra para el D8 DISCOVER - Manejo versátil de muestras
- D8 DISCOVER Plus - ATLAS™ Goniómetro y fuente Turbo X-Ray de alta eficiencia
- Concepto de movimiento universal y cunas eulerianas para el posicionamiento controlado de muestras
Informes de aplicaciones & Seminarios web
- Characterization of ultra-thin metallic films using incidence diffraction geometries
- D8 DISCOVER Plus, Análisis PDF sobre nanopartículas de dióxido de titanio
- D8 DISCOVER Plus, Límites inferiores de detección (LOD) y Cuantificación (LOQ) para Sílice Respirable
- D8 DISCOVER Plus, Reflectometría de rayos X en películas delgadas y superlatos