Eccezionale IR.
Immagini brillanti. Imaging ultraveloce.
Più spazio per la preparazione del campione. Più velocità per l'imaging chimico. Più perfomance in microscopia ATR, trasmissione e riflessione. Questo è ciò che noi chiamiamo un vero punto di svolta - nessuna discussione.
FT-IR microscopy:
FT-IR FPA imaging:
IR laser imaging (ILIM):
Easy to use all in one software.
The LUMOS II Wizard.
Inertness against high humidity.
Using inert optical materials.
AI powered evaluation routines.
Adaptive Chemical Imaging.
Compliance to cGMP and FDA 21 CFR p11.
Comprehensive audit trail.
Complete automization and long service-life.
Automated Knife-Edge Apertures.
Open design with easy access to samples.
270° access from three sides.
Crediamo che sia giunto il momento di rendere disponibili tecniche avanzate a ogni utente, indipendentemente dal loro livello di abilità. I vantaggi dell'imaging e della microscopia FT-IR sono troppo grandi per limitare l'accesso tramite ingombranti software e dischi rigidi.
Fin dall'inizio il LUMOS II ha avuto lo scopo di rendere l'imaging FT-IR più veloce, più facile, più preciso e affidabile e ancora più divertente. Naturalmente, questo ci ha richiesto di includere nuove e migliorare la tecnologia collaudata.
Ecco perché abbiamo adattato il LUMOS II, il suo software e l'interfaccia utente specificamente per l'utente. I principianti ottengono risultati perfetti in nessun tempo, mentre gli esperti mantengono il controllo totale dello strumento.
Caratteristiche tecniche luMOS II:
LUMOS II fornisce:
Applicazioni
Si tratta di questo: strumento migliore. Risultati migliori.
Che si tratti di trasmissione, riflessione o riflettanza totale attenuata (ATR),il LUMOS II è sempre la scelta giusta. Ma la sua più grande forza è la microscopia ATR potenziata dalla tecnologia FPA. Questo rende il LUMOS II uno strumento universale per l'analisi dei guasti e lo sviluppo del prodotto.
Per farla breve, le sue capacità ATR sono insuperate. Periodo. Non accontentarti di accessori ATR manuali e inaffidabili: ottieni il meglio. Ottenere il LUMOS.
Il cristallo retrattile è controllato da motori piezoelettrici ad alta precisione e integrato nell'obiettivo. Ciò consente di godere di una visione chiara del campione mentre la misurazione avviene ancora esattamente dove si desidera.
Resistenza e potenza per le applicazioni.
Per noi è naturale trasmettere la migliore tecnologia ai nostri clienti. Naturalmente, questo vale anche per il LUMOS II.
L'interferometro RockSolidTM garantisce prestazioni costanti, mentre l'elettronica moderna garantisce precisione meccanica e basso consumo energetico. Nel frattempo, il software monitora l'efficacia dello strumento e garantisce sempre la corretta funzionalità.
Analisi delle particelle e delle superfici
Produzione industriale
Scienza ambientale
Scienza della vita
Forensics
Polimeri e materie plastiche
Arte e Restauro
Pharmaceuticals
Scienza di superficie
New Feature: 3D FocusFusion now allows the creation of visual images of infinite "sharpness"
This new feature creates a pin sharp visual image, even if the sample has a rough surface or isn’t flat at all.
This infinite "sharpness" in microscopic images helps in region of interest selection. Now it will be possible to generate sharp visual images of samples for which the depth of field of the LUMOS II is limited.
New Feature: FPA imaging can now follow round / circular measurement areas
Now, the measurement grid can be placed in a round shaped way to measure a whole particle filter with FPA imaging. By only measuring the actual region of interest users safe significant amounts of time during FPA measurements of round regions of interest like filters in microplastic analysis.
New Feature: High Performance Chemical Image Generation by New Adaptive K-means Clustering Function
This new function is the logical next development step for our well known Cluster analysis function.The Adaptive K-means Clustering Function is based on a new algorithm, which enables a non-supervised and autonomous determination of spectral variance within your imaging or mapping results.
New Feature: “Cluster ID” Function for Identification of Classes in 3D Spectral Data
Our new Cluster ID function enables the identification of clusters within imaging and mapping data using the OPUS functions: spectrum search in libraries, quick compare, or identity test.
Updated Feature: "Find Particles" function now contains a novel particle detection method
The proven "Find Particle" software can now be applied to both: the visual and the IR image. With this updated feature, you are able to do particle detection based on chemical images that were measured by the LUMOS II.
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