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Microscopio FT-IR

LUMOS II

Il LUMOS II è un microscopio FTIR autonomo che eccelle nell'analisi dei guasti, nella ricerca dei materiali e nell'analisi delle particelle. È compatto, preciso e dotato di imaging chimico ultraveloce da parte della tecnologia FPA.

Eccezionale IR.

Immagini brillanti. Imaging ultraveloce.

La nostra dichiarazione

Microscopia a infrarossi come doveva essere.

Più spazio per la preparazione del campione. Più velocità per l'imaging chimico. Più perfomance in microscopia ATR, trasmissione e riflessione. Questo è ciò che noi chiamiamo un vero punto di svolta - nessuna discussione.

Single-point FT-IR microscopy? FPA imaging? IR laser? Your choice.

FT-IR microscopy:

  • TE-MCT as standard detector
  • Industry leading ATR crystal design
  • No liquid nitrogen, no dry-air purge
  • LN-MCT and DTGS optionally available
  • Up to two single-element detectors in parallel
  • Upgrade to FPA imaging anytime
  • Analyze samples of up to 40 mm in height

FT-IR FPA imaging:

  • Focal-plane array (FPA) imaging detector
  • Create FT-IR images at 1.6 mm² per sec
  • Access 1.25 µm spatial resolution (ATR)
  • FT-IR images at full MIR spectral range
  • Imaging in ATR/TRANS/REFL
  • Patented PermaSure+ imaging calibration
  • Up to two additional detectors in parallel

IR laser imaging (ILIM):

  • Room temperature focal-plane array detector
  • Create IR images at 4.5 mm² per second
  • IR laser images at 1,800 - 950 cm-1
  • Create chemical images in TRANS and REFL
  • Patented spatial coherence reduction
  • Application workflows (Tissue, Particle, Tablet)
  • Open design laser class 1 instrument

No matter what you choose, LUMOS II always offers ...

Easy to use all in one software.
The LUMOS II Wizard.


Inertness against high humidity.
Using inert optical materials.

AI powered evaluation routines.
Adaptive Chemical Imaging.


Compliance to cGMP and FDA 21 CFR p11.
Comprehensive audit trail.

Complete automization and long service-life.
Automated Knife-Edge Apertures.


Open design with easy access to samples.
270° access from three sides.

Facile efficace precisione

La centrale elettrica per la microscopia e l'imaging FT-IR

Inroduzione del LUMOS II Presentazione del prodotto
Il product manager LUMOS II presenta il LUMOS II e le sue caratteristiche.
Cos'è il LUMOS II

Il microscopio FTIR ovunque / Chiunque

Crediamo che sia giunto il momento di rendere disponibili tecniche avanzate a ogni utente, indipendentemente dal loro livello di abilità. I vantaggi dell'imaging e della microscopia FT-IR sono troppo grandi per limitare l'accesso tramite ingombranti software e dischi rigidi.

Fin dall'inizio il LUMOS II ha avuto lo scopo di rendere l'imaging FT-IR più veloce, più facile, più preciso e affidabile e ancora più divertente. Naturalmente, questo ci ha richiesto di includere nuove e migliorare la tecnologia collaudata.

Ecco perché abbiamo adattato il LUMOS II, il suo software e l'interfaccia utente specificamente per l'utente. I principianti ottengono risultati perfetti in nessun tempo, mentre gli esperti mantengono il controllo totale dello strumento.

Caratteristiche

Caratteristiche tecniche luMOS II:

  • Rilevatore TE-MCT standard
  • Plug & Play: nessun azoto liquido, nessuna purga dell'aria secca
  • Rilevatore opzionale di immagini FPA
  • Nuova tecnologia di calibrazione PermaSure
  • Hardware completamente motorizzato e automatizzato
  • Accomoda campioni fino a 40 mm di altezza
  • Lunga durata dei componenti, tra cui il laser
  • Inerte ad alta umidità (ottica di znSe)
  • Design stand-alone, ingombro ridotto
  • Basso consumo energetico
 

LUMOS II fornisce:

  • Facilità d'uso da parte di misurazioni guidate dal software
  • Dati spettrali e visivi ad alta definizione
  • Alta sensibilità iR senza azoto liquido
  • Risoluzione visiva nell'intervallo di micrometri secondari
  • Prestazioni di imaging FPA ultraveloce
  • FPA imaging ATR/trasmissione/riflessione
  • Facile accesso alla fase di esempio
  • Conformità a cGMP e FDA 21 CFR p11
  • Test automatizzati OQ/PQ/pharmacopeia
  • Aggiornabilità in qualsiasi momento
 

Applicazioni

  • Analisi dei guasti
  • Analisi di particelle e superfici
  • Produzione industriale
  • Scienza forense
  • Scienza della vita
  • Polimeri e materie plastiche
  • Scienza ambientale
  • Pharmaceuticals
ECCELLENTE MICROSCOPIA FT-IR

Capacità μ-ATR FT-IR superiori

Si tratta di questo: strumento migliore. Risultati migliori.

Che si tratti di trasmissione, riflessione o riflettanza totale attenuata (ATR),il LUMOS II è sempre la scelta giusta. Ma la sua più grande forza è la microscopia ATR potenziata dalla tecnologia FPA. Questo rende il LUMOS II uno strumento universale per l'analisi dei guasti e lo sviluppo del prodotto.

Per farla breve, le sue capacità ATR sono insuperate. Periodo. Non accontentarti di accessori ATR manuali e inaffidabili: ottieni il meglio. Ottenere il LUMOS.

Il cristallo retrattile è controllato da motori piezoelettrici ad alta precisione e integrato nell'obiettivo. Ciò consente di godere di una visione chiara del campione mentre la misurazione avviene ancora esattamente dove si desidera.

Tecnologia collaudata

Innovazione convincente

Resistenza e potenza per le applicazioni.

Per noi è naturale trasmettere la migliore tecnologia ai nostri clienti. Naturalmente, questo vale anche per il LUMOS II.

L'interferometro RockSolidTM garantisce prestazioni costanti, mentre l'elettronica moderna garantisce precisione meccanica e basso consumo energetico. Nel frattempo, il software monitora l'efficacia dello strumento e garantisce sempre la corretta funzionalità.

LUMOS II Application Videos
 

PCB failure analysis by FT-IR microscopy.
Coating defect analysis by ATR-FT-IR microscopy.
Adhesive layer analysis of a food packaging film by µ-FT-IR.
Textile and fleece quality control by FT-IR microscopy.
Detecting dangerous particles in injectable medication.
Particle root cause analysis performed by IR microscopy.
Composite multi-layer polymers analyzed by ATR-FT-IR.
Coating thickness analysis of DLC layers by FT-IR microscopy.
Quantification in microscopic samples by FT-IR.
How LUMOS II is applied in geology and related sciences.
Anti-corrosive coating analysis on metal surface by IR imaging.
Multi-layer film and laminate analysis by macro ATR imaging.
Diamond gemstone analysis by FT-IR microscopy.
Finding microplastic particles in cosmetic products by µ-FT-IR.
See for yourself how well IR and VIS data match with LUMOS II.

Testimonial: Microplastics

The team led by Dr. Martin Löder and Prof. Christian Laforsch maintains one of the leading microplastics analysis laboratories in Germany.

OPUS Release 8.8  | LUMOS II | Q3 2023

New Feature: 3D FocusFusion now allows the creation of visual images of infinite "sharpness"

This new feature creates a pin sharp visual image, even if the sample has a rough surface or isn’t flat at all.
 This infinite "sharpness" in microscopic images helps in region of interest selection. Now it will be possible to generate sharp visual images of samples for which the depth of field of the LUMOS II is limited.


New Feature:
FPA imaging can now follow round / circular measurement areas

Now, the measurement grid can be placed in a round shaped way to measure a whole particle filter with FPA imaging. By only measuring the actual region of interest users safe significant amounts of time during FPA measurements of round regions of interest like filters in microplastic analysis.

OPUS Release 8.7  | LUMOS II | Q3 2021

New Feature: High Performance Chemical Image Generation by New Adaptive K-means Clustering Function

This new function is the logical next development step for our well known Cluster analysis function.The Adaptive K-means Clustering Function is based on a new algorithm, which enables a non-supervised and autonomous determination of spectral variance within your imaging or mapping results.

  •  Forecasting or time consuming searching of the included amount of chemical classes is no longer been necessary as the algorithm can predict all included chemical classes  by itself.
  • This major function is important for all kind of chemical imaging and distribution analysis of unknown samples or small structures within larger datasets.
  • Together with the LUMOS II analysis and evaluation is as easy as possible and safes your valuable time and nerves.

New Feature: “Cluster ID” Function for Identification of Classes in 3D Spectral Data

Our new Cluster ID function enables the identification of clusters within imaging and mapping data using the OPUS functions: spectrum search in libraries, quick compare, or identity test.

  • Easy determination of the chemical identity of classified sample components for particles, layers in laminates, components of pharmaceutical tablets and other inhomogeneous materials.
  • Reliable and comprehensive statistics reports about quantity, size and of course identity of all analyzed structures is provided and leads particle and technical cleanliness analysis to a new, autonomous level.

Updated Feature: "Find Particles" function now contains a novel particle detection method

The proven "Find Particle" software can now be applied to both: the visual and the IR image. With this updated feature, you are able to do particle detection based on chemical images that were measured by the LUMOS II.

  • While particle recognition for low contrast structures and off-white/transparent particles/fibers on off-white filter membranes can be tedious, a postrun particle determination based on the chemical IR image allows you to determine quantity and size of particles from your imaging or mapping results.
  • With the Find Particle Function together with the LUMOS II you will never miss any detail – neither in visual nor in IR range.

Sala di letteratura ai microscopi FT-IR

Scopri di più sui nostri microscopi e soluzioni FT-IR scaricando la documentazione correlata.