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마이크로-XRF 분광계

M4 토네이도 플러스

마이크로 XRF의 초경량 엘리먼트

탄소에 대한 XRF 매핑

민감한 샘플을 위한 허 퍼지

탄소
가장 낮은 검출 가능한 요소
탄소에서 시작하는 모든 요소를 측정할 수 있습니다.
>6
밀리미터
AMS를 통해 초점의 깊이
조리개 관리 시스템(AMS)은 지형 샘플에 선명한 이미지를 허용합니다.
0.5-4.5
밀리미터
선택 가능한 콜리메이터 크기
추가 튜브의 4위치 콜리메이터 체인저

혁신적인 초경량 엘리먼트 마이크로-XRF 스캐너

Bruker의 마이크로 XRF 제품군의 최신 모델을 사용하면 이전에 설명한 것보다 샘플에 대해 자세히 알아볼 수 있습니다.

초경량 원소 검출기를 갖춘 M4 TORNADO PLUS는 탄소 위쪽의 모든 요소를 측정할 수 있는 최초의 마이크로 XRF 스캐너입니다. 또한 모든 라이트 요소의 성능이 크게 향상됩니다.

이 계측기에서 Bruker는 고르지 않은 시료의 선명한 원소 매핑을 위해 폴리모세관 렌즈의 초점 깊이를 향상시키는 특허 받은 조리개 관리시스템(AMS)을도입했습니다. 옵션으로 제공되는 두 번째 X-ray 소스는 4개의 선택 가능한 스팟 크기로 분석 기능을 0.5~4.5mm로 확장합니다.

가볍고, 빠르며, 더 깊습니다.

M4 TORNADO 제품군의 챔버는 He-flush를 위한 옵션을 제공합니다. 이렇게 하면 챔버에서 대기압을 유지하면서 광요소 성능이 향상됩니다. 생물학적 또는 습식 시편의 광원소는 시료를 동결하거나 건조할 필요 없이 분석할 수 있다.

문의 브로셔 다운로드 (EN)

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M4 토네이도 플러스: 초경량 엘리먼트 마이크로-XRF 분광계

분석 성능에 플러스의 이점

  • 검증된 M4 TORNADO 제품군이 제공하는 모든 장점으로 고체, 입자 또는 액체측정
  • 탄소에서 시작되는 전체 요소 범위의 스펙트럼, 라인 스캔 및 맵을 기록할 수 있는 기능으로 마이크로-XRF 경험 확장
  • 하이퍼맵 데이터 큐브에서 광학 이미지와 픽셀당 전체 스펙트럼 정보의 조합을 기록하고 저장
  • 두 개의 고처리량 초경량 요소 SD 검출기와 집중된 X선 빔의 조합을 통해 측정 시간 단축
  • 구성 가능한 기본 매개 변수 루틴으로 빠른 정량화 결과를 얻거나 표준 지원, 완전히 표준 기반 및 층 두께 정량화를 위해 Bruker의 XMethod 소프트웨어를 사용하십시오.
  • 조리개 관리 시스템(AMS)을 사용하여 고심에서 고르지 않은 샘플을매핑합니다.
  • 기기의 전체 수명 동안 업그레이드 및 서비스 패키지로 성능 향상

리소스 및 간행물

브로셔 및 플라이어

응용 프로그램 노트

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