M6 제트스트림

2x60

mm²

SDD 크기

가장 빠른 인수를 위한 듀얼 실리콘 드리프트 검출기 옵션

80x60

cm²

스캔 가능한 표면

한 번의 실행으로 더 큰 샘플 매핑

100-500

μm

조정 가능한 스팟 크기

현물 크기는 샘플의 구조에 맞게 5단계로 조정할 수 있습니다.

대지 마이크로-XRF의 최첨단

대형 시료(매크로-XRF 또는 MA-XRF라고도 함)의 마이크로-XRF는 회화, 지질 샘플, 고고학 유물 및 산업 구성 요소의 분석을 위한 결정적인 방법이 되었습니다. M6 JETSTREAM은 이러한 분석을 최고 속도와 정확도로 구동합니다. M6 JETSTREAM은 이동식 휠베이스와 조절 가능한 프레임을 통해 샘플을 실험실로 전송하는 대신 현장에서 사용할 수 있습니다.

직립 샘플 또는 수평 표면 의 측정
최대 800 x 600mm²의 스캔 가능한 영역
최고 매핑 속도에 대한 "즉석" 분석
시료의 구조에 맞게 조정 가능한 스팟 크기
최대 2 x 60mm² 크기의 XFlash® SDD 기술
고르지 않은 표면에 초점을 맞출 수 있는 옵션 조리개 관리시스템(AMS)

문의 브로셔 다운로드

M6 제트스트림에서 무엇을 기대할 수 있습니까?

거의 모든 표면의 원소 분포에 대한 공간적으로 해결된 정보 얻기
한 번실행으로 넓은 영역에 대한 데이터 기록
하나의 하이퍼맵 데이터 세트에서 고해상도 광학 이미지와 픽셀당 전체 스펙트럼 결합
맵에서 데이터를 처리하고 개체 스펙트럼, 라인 스캔 및 화학 적 위상을 추출합니다.
표준없는 기본 매개 변수 (FP) 방법을 사용하여 스펙트럼을 정량화
물류를 피하고 귀중한 물건의 보안을 보장함으로써 비용과 시간 단축

이 동영상을 재생하려면 쿠키를 허용해야 합니다.

광범위한 미코-XRF 샘플 살펴보기

매우 큰 표면에 비해 타의 추종을 불허하는 성능

레오나르도의 바위의 처녀 잠금 해제

초기 스케치의 감탄 세부 사항은 M6 JETSTREAM을 사용하여 넓은 영역 조성 (MA-XRF) 매핑에 의해 발견,이 유명한 그림의 표면 아래에 숨겨진 발견되었습니다.

예술, 보존 및 고고학

Bruker는 지점별 분석에서 부터 대규모 영역 스캐닝에 이르는 측정 기능을 밀리미터 에서 마이크로미터까지 측정하는 계측을 통해 문화 재적 분석을 지원합니다.