D8 ADVANCE основан на уникальной семейной платформе D8 diffractometer и идеально подходит для всех рентгеновских порошковых дифракций и рассеяния приложений, включая:
Благодаря превосходной адаптивности, D8 ADVANCE имеет возможность измерять все типы образцов, от жидкостей до свободных порошков, от тонких пленок до твердых блоков, на одном инструменте.
Независимо от того, новичок вы или опытный пользователь, изменения конфигурации являются быстрыми, легкими и надежными. Все это можно сделать возможным благодаря уникальному DAVINCI компании Bruker. DESIGN: Изменения конфигурации инструмента без инструментов и выравнивания, поддерживаемые автоматическим распознаванием и проверкой компонентов в режиме реального времени.
Еще больше - только Bruker предлагает гарантию выравнивания на основе стандартного справочного материала NIST SRM1976. На рынке нет другого порошкового дифрактометра, превышающего точность D8 ADVANCE с точки зрения пиковых позиций, интенсивности и разрешения.
Запатентованная конструкция пути пучка оптики TWIN / TWIN значительно упрощает использование D8 ADVANCE, позволяя большое разнообразие применений и типов образцов. С удобством пользователя в виду, система имеет автоматическое, моторизованное переключение между 4 различных геометрий пучка. Без ручного вмешательства пользователя, система способна переключаться между фокусировкой Брэгг-Брентано для порошков и параллельной геометрии луча для необразимых образцов, покрытий и тонких пленок, и все между ними. Он идеально подходит для всех типов образцов, включая порошок, навалом, клетчаткой, листом и тонкой пленкой (аморфной, поликристаллической и эпитаксиальной) в условиях окружающей среды или необлиза.
Уникальная функция DBO компании Bruker устанавливает новый значительный ориентир с точки зрения качества данных для рентгеновской дифракции. Автоматическая синхронизация моторизованных дивергенций, моторизованный экран против рассеяния и переменное окно активного детектора поля зрения обеспечивают беспрецедентное качество данных, особенно под низкими углами 2Ɵ. DBO поддерживается всеми членами семьи детекторов LYNXEYE: SSD160-2, LYNXEYE-2 и LYNXEYE XE-T.
LYNXEYE XE-T является флагманом в семейство детекторов LYNXEYE. LYNXEYE XE-T является единственным энергодисперсивным детектором на рынке для приобретения данных 0D, 1D и 2D. Подходит для всех длин волн (от Cr до Ag), с высокой скоростью подсчета и лучшим угловым разрешением, детектор идеально подходит для всех рентгеновских дифракции и рассеяния приложений.
Превосходное энергетическое разрешение LYNXEYE XE-T, лучше, чем 380 eV, делает его самой высокой работой системы детекторов на рынке с точки зрения фильтрации флуоресценции. С детектором LYNXEYE XE-T Fe флуореценз возбужденных Cu излучения фильтруется на 100% при потере нулевой интенсивности и нет необходимости в металлических фильтров, вызывающих артефакты в данных, таких как остатки КЗ и поглощения края. Также больше нет необходимости в интенсивности убийства вторичных монохромных.
LYNXEYE XE-T покрывается уникальной гарантией детектора Brukers: нет дефектных каналов во время доставки. Гарантировано!
Детектор EIGER2 R
Качество инструментов и данных
Рентгеновские методы дифракции порошка (XRPD) являются одними из наиболее важных инструментов для характеристики материалов. Большая часть информации, встроенной в шаблон порошка, получена непосредственно из атомного расположения присутствующих фаз. D8 ADVANCE и ДИФФРАК. Программное обеспечение SUITE позволяет поддерживать простое выполнение общих методов XRPD:
Анализ функции распределения пар (PDF) является аналитическим методом, который предоставляет структурную информацию из неупорядоченные материалы, основанные на Брэгге, а также диффузное рассеяние ("Полное рассеяние"). В то время как пики Брэгга предоставляют информацию о средней кристаллической структуре материала (т.е. порядке дальнего действия), диффузное рассеяние позволяет о характеристике его локальной структуры (т.е. порядка на короткой дальности).
Программное обеспечение D8 ADVANCE и TOPAS представляет собой наиболее эффективные решения pdf-анализа на рынке с точки зрения скорости анализа, качества данных и результатов для анализа аморфных, плохо кристаллических, нанокристаллированных или наноструктурированных материалов:
Анализ тонких пленок и покрытий основан на тех же принципах XRPD, но с дальнейшим кондиционированием пучка и угловым управлением. Типичные примеры включают, но не ограничиваются, фазовая идентификация, кристаллическое качество, остаточный стресс, анализ текстуры, определение толщины и состав против анализа деформации. Анализ тонких пленок и покрытий фокусируется на свойствах слоистых материалов толщиной от нм до мкм, начиная от аморфных и поликристаллических покрытий и до эпитаксиально выращенных пленок. D8 ADVANCE и ДИФФРАК. Программное обеспечение SUITE позволяет высококачественный анализ тонких пленок, включая:
Функция | Спецификация | Пользу |
TRIO и оптика TWIN | Программное обеспечение нажать кнопку переключатель между: Моторизованная дивергенция щели (Брэгг-Брентано) Высокая интенсивность Ka1,2 Параллельный луч Высокое разрешение Ka1 Параллельный луч Патенты: US10429326, US6665372, US7983389 | Полностью автоматическое, моторизованное переключение между до 6 различными геометриями пучка без какого-либо ручного вмешательства пользователя Идеально подходит для всех типов образцов, включая порошки, сыпучие материалы, волокна, листы и тонкие пленки (аморфные, поликристаллические и эпитаксиальные) |
Оптимизация динамического луча | Динамическая синхронизация: моторизованные дивергенции щелей моторизованный анти-рассеянный экран переменное окно активного детектора 2Ɵ угловой диапазон: lt;1 до 150 | Данные, практически свободные от рассеяния воздуха, приборов и образцов Значительно увеличены нижние пределы обнаружения, позволяющие количественно оценить незначительные кристаллические и аморфные фазы Беспрецедентная производительность при низких 2Ɵ, позволяющих точные исследования глин, фармацевтических препаратов, цеолитов, пористых рамочных материалов и многое другое |
LYNXEYE XE-T | Разрешение энергии: Lt; 380 eV и 8 KeV Режимы обнаружения: 0D,1D, 2D Длина волн: Cr, Co, Cu, Mo и Ag Патенты: EP1647840, EP1510811, US20200033275 | Нет необходимости в фильтрах КЗ и вторичных монохромных 100% фильтрация Fe-fluorescense с cu излучения До 450 раз быстрее, чем обычные системы детекторов BRAGG2D: Сбор 2D данных с расходящимся пучком первичной линии Уникальная гарантия детектора: нет дефектных каналов во время доставки |
EIGER2 R | Многопрофийный детектор последнего поколения (0D/1D/2D) на основе технологии гибридного фотона, разработанной Dectris Ltd. | Бесшовная интеграция 0D, 1D и 2D обнаружения в шаге, непрерывных и продвинутых режимах сканирования Эргономичное вращение детектора без выравнивания для оптимизации γ или 2Ɵ углового покрытия Панорамная, свободная от инструментов дифрактированная лучевая оптика с использованием полного поля зрения детектора Непрерывное позиционирование детектора для баланса углового покрытия и разрешения |
Твист. Трубки | Легкий, быстрый и свободный от выравнивания переключатель между приложениями с фокусировкой линии и точки | Отсутствие отключения электрических кабелей или шлангов для воды или отключения труб Davinci. DESIGN: Полностью автоматическое обнаружение и конфигурация фокус-ориентации |
Образцы сменщиков | FLIPSTICK: 9 образцов АВТОЧАНГЕР: 90 образцов | Операция по отражению и геометрии передачи |
D8 Гониометр | Двухкруговые гониометры с независимыми степпер-моторами и оптическими кодерами | Беспрецедентная точность и точность, как manifasted по уникальной гарантии выравнивания Брукера Абсолютно обслуживание свободного привода механизма / передач с пожизненной смазки |
Необосвеняя окружающая среда | Температура: от 4K до 2500K Presure: 10-⁴ мбар до 100 бар Влажность: от 5% до 95% | Расследования в условиях окружающей среды и не окружающей среды Легко обменялись этапами с DIFFRAC. Davinci |
Bruker XRD solutions consist of high performance components configured to meet the analytical requirements. The modular design is the key to configure the best instrumentation.
All categories of components are part of Bruker’s key competence, developed and manufactured by Bruker AXS, or in close cooperation with third party vendors.
Bruker XRD components are available for upgrading the installed X-ray systems for improving their performance.
DIFFRAC.SUITE™ offers a wide range of software modules for easy X-ray powder diffraction data acquisition and evaluation. Based on Microsoft's .NET technology, DIFFRAC.SUITE offers all the advantages of modern software technology for stability, maximum ease of use and networking.
The fully customizable user-interface is characterized by a plug-in framework, providing a common look, feel and operation. All measurement and evaluation software modules can be operated as individual applications or integrated together in DIFFRAC.SUITE's plug-in framework. Unlimited networking allows access and control of any number of D6 PHASER, D8 ADVANCE, D8 DISCOVER and D8 ENDEAVOR diffractometers within a customer's network.
Measurement Software:
WIZARD – Method planning
COMMANDER – Method execution and direct measurements
TOOLS – Service Interface
Powder Diffraction Software:
DQUANT – Quantitative phase analysis
EVA – Phase identification and quantitative phase analysis
TOPAS – Profile analysis, quantitative analysis, structure analysis
Materials Research Software:
SAXS – Small Angle X-ray Scattering software
TEXTURE – All-round Texture analysis meets ease-of-use
LEPTOS – Thin film analysis/Residual stress investigation