Languages

Рентгеновский диФРАКЦИЯ (XRD)

D8 DISCOVER Плюс

Самое мощное и точное решение XRD, которое идеально соответствует требованиям исследований, разработок и контроля качества в промышленности и научных кругах.

XRD превосходит ожидания

< 0.007° 2Ɵ
Точность в пиковых позициях
D8 DISCOVER Plus поставляется с уникальной гарантией выравнивания по всему угловому диапазону на основе стандартного справочного материала NIST SRM 1976.
160 градусов 2ƟeNC
Диффракция в самолете в лучшем виде
Non-Coplanar Arm Bruker позволяет проводить измерения дифракции в плоскости с непревзойденной угловой дальностью и точностью.
6 кВт/мм2
Самый высокий источник рентгеновской яркости в XRD
TXS-HE обеспечивает рентгеновский фокус с 6 кВт / мм2, что делает его конечным выбором для обоих - линии и месте - фокус приложений.
Только Bruker предлагает стандартную гарантию выравнивания позиции, ответа и разрешения.
Уникальная гарантия выравнивания Bruker

D8 DISCOVER Plus - Смотреть видео

Универсальность - Дифракция рентгеновских лучей - Производительность

D8 DISCOVER Plus является самым мощным и универсальным рентгеновским дифрактометром и рынком.
Ядром является высокотоктовый гониометр ATLAS, в котором находится высокая эффективность рентгеновского источника Turbo (TXS-HE) и лидирующая на рынке некопланарная рука.
Он предназначен для структурной характеристики всего спектра материалов от порошков, аморфных и поликристаллических материалов до эпитаксиальных многослойных тонких пленок в условиях окружающей среды и без окружающей среды.

Приложений:

  • Фазовая идентификация и количественная оценка, определение структуры и уточнение, анализ микроте напряжения и размера кристаллита,
  • Рентгеновская отражаемая, дифракция заболеваемости выпасом скота (GID), дифракция в плоскости, XRD высокого разрешения, GISAXS, анализ GI-стресс, анализ кристаллической ориентации
  • Остаточный анализ стресса, текстуры и полюс цифры, микро рентгеновской дифракции, широкий угол рентгеновского рассеяния (WAXS),
  • Общий анализ рассеяния: Брэгг Дифракция, Функция распределения пар (PDF), Рассеяние X-Ray Small Angle (SAXS)

Ключевые особенности

D8 DISCOVER Плюс Особенности

Некопланарная рука

D8 DISCOVER Plus может быть оснащен некопланарным вооружением для выполнения дифракционных измерений In-Plane с непревзойденной производительностью.

  • Доступные 2θ диапазоне до 160 "для непревзойденной точности в d-расстояние определения.
  • Непревзойденная точность с прямым угловым энкодером.
  • Компоненты выделенного пути пучка увеличивают измеренную интенсивность для получения сигналов даже от сверхтонких поликристаллических пленок.
  • Бесшовная интеграция в DIFFRAC. Программное обеспечение SUITE и в DIFFRAC. DAVINCI для максимальной эффективности.
D8 DISCOVER Плюс Особенности

АТЛАС™ Гониометр

В рентгеновской дифракции основанием для точного анализа образцов является гониометр и точная ориентация установленных компонентов, особенно при измерении. Гониометр ATLAS точно отвечает этим требованиям по дизайну и устанавливает ориентир для угловой и пространственной точности:

  • Надежный и без технического обслуживания гониометр
  • Высокоточные степперные двигатели с оптическими кодерами высокого разрешения
  • Точные и программные интерфейсы для монтажных компонентов

D8 DISCOVER Plus оснащен гониометром ATLAS поставляется с общей гарантией выравнивания Bruker AXS: угловое отклонение ∆2Эта измеренных и сертифицированных пиковых позиций 2Theta составляет ≤0,007 ". Это подтверждается измерением сертифицированного NIST стандарта SRM1976 с каждым отдельным инструментом.

D8 DISCOVER Плюс Особенности

Рентгеновский источник TXS-HE

Независимо от того, является ли ключевым показателем аналитического рентгеновского инструмента качество данных, определяемое как сигнал к шуму или сигнал к фону, или пропускная способность образца, одна константа заключается в том, что больше сигнала всегда является преимуществом.

Высокоскоростной Turbo X-Ray Source (TXS-HE) был разработан для повышения сигнала при минимизации обслуживания, связанного с технологией вращения анода.

  • До 5 раз интенсивность промышленной герметичной трубки
  • Настройка фокусировки линии с непревзойденной яркостью фокусного пятна 6 кВт/мм2
  • Идеальная связь с оптикой для максимальной интенсивности
  • Уменьшенная длина пути пучка, чтобы свести к минимуму рассеяние воздуха

Помимо премиум-класса Дифракция

D8 DISCOVER Плюс Приложения

Тонкий анализ пленки

Копланар Дифракция
В эксперименте по копланару источник и детектор увеличивают угол наклона относительно поверхности образца, что приводит к зондированию поверхности образца.

  • Выпаса дифракции заболеваемости (GID) для поверхности чувствительной идентификации кристаллических фаз и определения их структурных свойств, включая размер кристаллита и деформации.
  • Рентгеновская отражательное излучение (XRR) для извлечения толщины, плотности материала и структур интерфейса в многослойных образцах – от простых субстратов до очень сложных суперлаттических структур.
  • Выпаса заболеваемость небольшой угол рентгеновского рассеяния (GISAXS)

Некопланарная дифракция
В некопланарных экспериментах фиксируется угол источника и детектора относительно поверхности образца, при этом детектор движется в направлении, параллельном поверхности образца, что приводит к зондирующему направлению вдоль поверхности образца.

  • Дифракция заболеваемости в самолете снижает глубину проникновения до нм, позволяя изоляции поверхности и повышает чувствительность к слоям с атомной толщиной.
  • Поликристаллический IPGID позволяет определить размер кристалллита в плоскости
  • Эпитаксисный IPGID позволяет напрямую определить параметры решетки в плоскости и ориентацию в плоскости.
D8 DISCOVER Плюс Приложения

Исследование материалов

Гониометр ATLAS повышает как угловую, так и реальную точность позиционирования пространства анализов, позволяющих проводить крупномасштабные измерения из миниатюрных областей образца. Новый класс дифрактометра реализуется путем объединения симметричных расхождений i-C с MONTELPlus и многомодовым семейством EIGER2 R, что приводит к качеству луча и возможности обнаружения, аналогичным тем, которые находятся на линиях луча.

  • Выпаса Дифракция заболеваемости (GID) для поверхности чувствительных Идентификация кристаллических фаз и определение их структурных свойств, таких как размер кристаллита и деформации.
  • Рентгеновская отражательное излучение (XRR) для извлечения толщины, плотности материала и структур интерфейса в многослойных образцах – от простых субстратов до очень сложных суперлаттических структур.
  • Рентгеновская дифракция высокого разрешения (HRXRD) для анализа эпитаксисных выращенных структур образца: толщина слоя, деформация, релаксация, мозаика, анализ состава смешанных кристаллов.
  • Анализ стресса и текстуры (предпочтительная ориентация)
  • Широкоугольный рентгеновский рассеяние (WAXS)
D8 DISCOVER Плюс Приложения

Порошковая дифракция

Порошковая дифракция (XRPD) охватывает широкий спектр применений на образцах с низкой степенью ориентации. D8 DISCOVER Plus выводит XRPD на новый уровень точности с помощью гониометра ATLAS. Повышая точность за пределами ведущего в отрасли гониометра D8, анализ XRPD на D8 DISCOVER Plus позволяет исследователям выявить незначительные структурные детали, которые ранее не наблюдались. Оснащение D8 DISCOVER Plus TXS-HE позволяет получать данные XRPD более чем в 5 раз быстрее, чем обычная трубчатая система.
В сочетании с мощным DIFFRAC. Программное обеспечение SUITE D8 DISCOVER Plus обеспечивает простое выполнение приложения PXRD, например:

  • Фазовая идентификация
  • Фазовая количественная оценка
  • Структурированное решение
  • Анализ функций распределения пар (PDF)
  • Малый угол рентгеновского рассеяния (SAXS)

Спецификации D8 DISCOVER Plus

 СпецификацияПользу
ТВИСТ-ТРУБКА

Легкий переключатель между фокусом точки и линии

Доступные аноды: Cr, Cu, Mo, Ag

Максимальная мощность и нить: до 3 кВт (0,4 х 16 мм2), в зависимости от анодного материала

Патент: EP 1 923 900 B1

Быстрая смена длины волны, чтобы идеально соответствовать различным приложениям

Быстрый переключатель между линией и точкой фокусировки для более широкого спектра приложений и лучшие результаты в более короткое время

Источник микрофокуса I'с

Мощность: до 50 Вт, одноп фаза мощности

Оптика MONTEL и MONTEL Plus сочетает параллельные и фокусировки зеркал.

Размеры луча до 180 х 180 мкм2.

Максимальный интегрированный поток 8 x 10⁸ cps при зеркальном выходе.

Расхождение пучка до 0,5 mrad

Миллиметровый луч с высоким блеском и ультра-низким фоном

Зеленая конструкция с низким энергопотреблением, отсутствием потребления воды и расширенными компонентами

Оптимизация формы луча и расхождения для получения наилучших результатов

Источник рентгеновского излучения TXS-HE

Компактный и легкий дизайн для вертикального гониометра ATLAS

Фокус линии, 0.3x3 мм2

Координационная бригадность 6 кВт/мм2

Материалы Anode: Cu, Co, Cr, Mo

Максимальное напряжение 50 кВ, максимальная мощность в зависимости от анодного материала: Cr 3,2 кВт, Cu/Mo 5,4 кВт, Co 2,8 кВт

Предварительно выровненная нить вольфрама

Рентгеновский источник с высоким потоком, позволяющий горизонтально монтать образцы.

До 5 раз больше интенсивности по сравнению со стандартными керамическими рентгеновскими источниками.

Идеально подходит для линейных и точечных фокус-приложений

Предварительно выровненная нить позволяет быстро обмениваться нитью с минимальным требованием переостановок.

TRIO Оптика

Программное обеспечение нажать кнопку переключатель между:

Моторизованная дивергенция щели (Брэгг-Брентано)

Высокая интенсивность Ka1,2 Параллельный луч

Высокое разрешение Ka1 Параллельный луч

Патенты: US10429326, US6665372, US7983389

Полностью автоматическое, моторизованное переключение между до 6 различными геометриями пучка без какого-либо ручного вмешательства пользователя

Идеально подходит для всех типов образцов, включая порошки, сыпучие материалы, волокна, листы и тонкие пленки (аморфные, поликристаллические и эпитаксиальные)

Монохроматоры высокого разрешения

Ge (220) и Ge (004) отражения в симметричной и асимметричной геометрии

Монохроматоры 2-отказов и 4-отказов (типа Бартельса)

Выравнивание свободного монтажа через SNAP. Технология LOCK

Широкий выбор для наилучшего разрешения против интенсивности балансировки для получения наилучших результатов.

Быстрый обмен монохроматорами для оптимизации на различные образцы

АТЛАС™ Гониометр

Вертикальный гониометр с принудительной механикой, предназначенной для размещения рентгеновского источника TXS-HE

Ведущая в отрасли угловая точность : ±0,007 " 2θ на протяжении всего углового диапазона, определяемого на NIST SRM 1976

Бесшовная интеграция компонентов поколения D8, включая оптику, камеры позиционирования, этап выборки, неамбиентные и детекторные технологии

Беспрецедентная точность и точность, проявленные уникальной гарантией выравнивания Bruker

Абсолютно обслуживание свободного привода механизма / передач с пожизненной смазки

Поддерживает весь спектр приложений для получения данных с высокой точностью

Не-Коланар Арм

Третья ось гониометра для изучения ультратонких слоев и свойств образца в плоскости:

Мин. размер шага: 0,001 "

Максимальный 2θ (в зависимости от конфигурации): 160

Автоматическое обнаружение расстояния детектора

 

Непревзойденная точность с прямым угловым энкодером

Бесшовная интеграция в DIFFRAC. Программное обеспечение SUITE

Диапазон до 160 2θ для наиболее точного определения структуры Non-Coplanar

Калибровка в режиме реального времени для детектора EIGER2

Компактные этапы UMC

Компактный UMC Plus 80:

Быстрый спиннер для XRPD

Макс. (x,y) перевод: q/- 40 мм

Максимальная высота образца: 57 мм

 

Компактный UMC Plus 150:

Макс. (x,y) перевод: q/- 75 мм

Максимальная высота образца: 57 мм

Вакуумные и электрические feedthroughs для вафельного патрона и наклона этапов

Бесшовное переключение между исследованием тонкой пленки и режимом дифракции порошка

5 сменяемый образец положения для диаметра образца 51 мм

9 сменяемый образец положения для диаметра образца 32 мм

Картирование 2-4"вафель

 

Картирование 6-8"вафель

Режим отражения 96 также возможность пластины

Позволяет бесконечное вращение Phi с соединенным Tilt-этапом и вакуумом без необходимости ухаживать за кабелями или вакуумной трубой.

Centric Eulerian Cradle (CEC)Five degrees of freedom sample stage:

x,y for sample translation of +/-40 mm

z-Drive for height alignment

Phi drive with 360° rotation freedom.

Psi drive and angular range from -11° to 98°

Max. weight load: 1 kg

Various stage attachment available.
Stress and Texture measurements in side-inclination mode for more accurate results.

Automated mapping capability in (x,y).

Motorized tilt-stage for precise surface alignment.

Powder- or capillary spinners allow for powder diffraction.

Bayonet sample stage holder for fast and reproducible swapping with other stages.
Pathfinder Plus OpticsSoftware push-button switch between:

Motorized Slit

2-bounce Ge Analyzer

Automated absorber integrated
Fully automatic, motorized switching between two different optics without any manual user intervention.

Maintains full field of view of LYNXEYE detectors.

Absorber ensures linearity in measured data
LYNXEYE XE-TEnergy Resolution: < 380 eV @ 8 KeV

Detection Modes: 0D,1D, 2D

Wavelengths: Cr, Co, Cu, Mo and Ag

Patents: EP1647840, EP1510811, US20200033275
No need for Kß filters and secondary monochromators

100% filtering of Fe-fluorescense with Cu radiation

Up to 450 times faster than conventional detector systems

Bragg2D: Collect 2D data with a divergent primary line beam

Unique detector warranty: No defective channels at delivery time
EIGER2The latest generation multi-mode (0D/1D/2D) detector based on the Hybrid Photon Counting technology, developed by Dectris Ltd.Seamless integration of 0D, 1D and 2D detection in step, continuous and advanced scanning modes

Ergonomic, alignment-free detector rotation to optimize γ or 2Θ angular coverage

Panoramic, tool-free diffracted beam optics using the complete detector field of view

Continuously variable detector positioning to balance angular coverage and resolution
Non-ambientTemperature: Ranging from ~12 K up to ~2500 K

Pressure: 10-⁴ mbar up to 100 bar

Humidity: 5% to 95% RH
Investigations under ambient and non-ambient conditions

Easily exchanged stages with DIFFRAC.DAVINCI

XRD Components

Bruker XRD solutions consist of high performance components configured to meet the analytical requirements. The modular design is the key to configure the best instrumentation.

All categories of components are part of Bruker’s key competence, developed and manufactured by Bruker AXS, or in close cooperation with third party vendors.

Bruker XRD components are available for upgrading the installed X-ray systems for improving their performance.

Ресурсы D8 DISCOVER Plus

Service & Support